SunScan植物冠層分析儀
SunScan植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統(tǒng),提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)。SunScan植物冠層分析儀不需要等待特殊的天氣條件進行使用,可以在大多數光照條件下進行...
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更新日期
2021-11-24 - 02
廠商性質
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